光伏組件不及預期如何判斷隱裂問題
光伏電站安裝前的電池組件一般需要兩個流程的el檢測檢查
el檢測就相當于光伏組件X片測試，最近黃老板家里安裝了光伏發電，但是發電效果沒有達到預期，找到光伏檢測公司做了el檢測隱裂問題，發現部分組件有隱裂問題導致發電不正常。到底光伏隱裂是什么鬼呢？
下面介紹下相關技術
1》el檢測是光伏電池組件出廠前檢測，目前光伏組件產線基本在裝框后都有一次組件EL檢測，此檢測過程使用線上全自動EL檢測儀進行測試，直接與流水線對接進行全檢，以確保組件完好沒有任何內部隱裂，或真的其不同內部缺陷情況進行等級劃分再發送給電站。此過程中的組件質檢全部由組件廠商負責，其必須要有電性能跟EL的全部檢測報告。
2》是電站現場安裝前的檢測，在電站現場收到組件后，必須進行必要的組件EL內部缺陷檢測， 電性能檢測并不是很標準，有的具有斷柵，低效率片的組件，對其電性能檢測并沒有任何影響，但是此組件安裝上支架后比如只有較短的發電壽命，且拉低整條串聯 方陣發電效率。故電站現場安裝前EL檢測非常必要，其能明確廠家組件是否具有內部缺陷，或者在運輸過程中給組件造成的內部隱裂等，也可以在次過程中檢測出 來。此過程的EL檢測設備是嘉興吉光提供的吉勢戶外便攜式EL檢測儀，此設備特點為方便攜帶，客戶可直接帶到廠商，倉庫，電站現場進行組件的EL檢測儀，具體操作流程非常簡單；
倉庫內或者室內檢測：白天，如無強烈太陽光照射，可直接將紅外相機放置在三腳架上，對著組件進行內部缺陷的檢測。如有強烈太陽能光照射則需要搭建防簡易帳篷組件紅外暗室，在暗室內 將組件抬進去EL檢測。 夜晚，也是直接使用紅外相機防止三腳架上進行檢測，無需暗室（嘉興賽善提供的吉勢EL檢測儀不受月光的干擾）。此相機已經經過濾光處理，月光，燈光對于測試無任何影響。檢測有問題的組件取出來退換。
電站現場室外戶外檢測：白天，陽光下檢測需搭建防紅外暗室帳篷，抬放組件進暗室進行EL內部缺陷檢測。夜晚，組件檢測直接使用紅外相機三腳架進行檢測，設備自帶移動電源以便戶外上電使用。此過程中檢測問題的組件可直接進行支架上安裝。
來料檢測完好的組件進行支架安裝，在電站組件全部安裝后，還需對組件進行最終的EL檢測，以防止在安裝過程中由于施工問題使得組件出現內部缺陷問 題，此過程中可直接搭建三腳架進行單個或者多個方陣組件的檢測，嘉興吉光提供的吉勢便攜式EL檢測儀自動對焦功能使得此過程中檢測速度非常快速。
在完成安裝后檢測，其光伏電站的檢測全部完成，不同環節的檢測，也可以對于組件在哪塊環節出現問題責任有明確查詢，將沒有任何推諉的可能性。且無任何缺陷的組件才是最大功率與最長工作壽命的保障。
EL測試常見缺陷及分析
2.1破片
組件中的破片多出現在組件封裝過程的焊接和層壓工序，在EL測試圖中表現為電池片中有黑塊，因為電池片破裂后在電池片破裂部分沒有電流注入，從而導致該部分在EL測試中不發光。
2.2隱裂
晶 體硅太陽電池所采用的硅材料本身易碎，因此在電池片生產和組件封裝過程中很容易產生裂片。裂片分兩種一種是顯裂，另一種是隱裂。顯裂是肉眼可以直接看到 的，在組件生產過程中的分選工序就可以剔除；而隱裂是肉眼無法直接看到的，并且在組件的制作過程中更容易產生破片等問題。由于單晶硅的解離面具有一定的規 則，通過EL測試圖可以清晰地看到單晶硅電池片的隱裂紋一般是沿著電池片對角線方向的“x”狀圖形；多晶硅電池片由于晶界的影響有時很難區分是多晶硅的晶 界還是電池片中的隱裂紋。
2.3斷柵
電池片的斷柵主要是由于電池片本身柵線印刷不良或電池片不規范焊接造成的。從EL測試圖中表現為沿電池片主柵線的暗線，這是因為電池片的副柵線斷掉 后，EL測試過程中從電池片主柵線上注入的電流在斷柵附近處的電流密度很小甚至沒有，從而導致電池片的斷柵處發光強度較弱或不發光。
2.4燒結缺
在電池片生產過程中，燒結工序工藝參數不佳或燒結設備存在缺陷時，生產出來的電池片在EL測試過程中會顯示為大面積的履帶印。實際生產中通過有針對 性的工裝改造就可以有效的消除履帶印的問題。例如采用頂針式履帶生產出來的電池片在EL測試圖只能看到若干個黑點而沒有大面積的履帶印。
2.5黑芯片
黑芯片在EL測試圖中我們可以清晰的看到從電池片中心到邊緣逐漸變亮的同心圓，它們產生于硅材料生產階段，與硅棒制作過程中氧的溶解度和分凝系數大 有關系。此種材料缺陷勢必導致晶體硅電池片的少數載流子濃度降低，從而導致電池片中有此類缺陷的部分在EL測試過程中表現為發光強度較弱或不發光。
2.6電池片混擋
一塊組件的EL測試圖中有部分電池片發光強度與該組件中的大部分電池片相比較弱，這是由于這部分電池片的電流或電壓分檔與該組件中大部分電池片的電流或電壓分檔不一致造成的。
2.7電池片電阻不均勻
EL測試單個電池片表面發光強度不均勻，這是由于電池片電阻不均勻造成的, 較暗區域一般串聯電阻較大。這種缺陷也能反應電池片少子壽命的分布狀況，缺陷部位少子躍遷機率降低，在EL測試過程中表現為發光強度較弱。
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便攜式光伏組件EL測試儀
